膜厚仪可以测镀层厚度吗？膜厚仪的测量范围

  金属镀层的厚度是衡量镀层质量的重要指标之一，将会直接影响材料的使用性能，为了准确的评定金属镀层的厚度，就可以使用膜厚仪来进行检测。本文就给大家带来常用的膜厚仪的适用范围，感兴趣的用户不妨来看看吧！

  现在已经有很多种采用仪器进行厚度测量的方法。比如采用探头或头等对镀层进行直接测量的测厚仪，其原理有磁性法、涡流法、β射线反向散射法、荧光X射线法等。

  常用的便携式膜厚仪主要采用的就是磁性法以及涡流法。

  应用磁性法的膜厚仪可以快速、准确的无损检测各种涂覆在磁性金属基底上的非磁性涂层厚度。如在钢铁、镍材表面的镀铬层、镀铜层、镀锌层、油漆层、喷粉层等，均可用Fe基探头进行测量。

  而应用涡流法的膜厚仪可以快速、准确的无损测定各种涂覆在非磁性金属基底上的各种不导电的涂层厚度，如在如铝、铜、黄铜、不锈钢等材料表面的油漆层、喷粉层、涂瓷层等，用NFe基探头检测。

  如果用户想要测量镀层厚度，首先就要考虑基材是磁性还是非磁性，然后选定不同的方法来进行检测。

  磁性测厚法是利用被样与标准磁体之间的吸引力的变化来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层，如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地测量出结果。

  磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层提供了一种快速的测量方法，其准确度可达85%-90%。测量样件的粗糙度对测量结果有影响。如果被测件的基体很薄时，比如样片厚度低于0.25mm时，会有较大测量误差，这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少误差。

  磁性法的缺点是受磁性能要求的限制，所以适应于该方法的基体材料和镀层有限。

  所谓涡流测厚是通过探针使基体为导电材料表面一定深度内发生瞬间震荡电流回路。涡流电路的强度受镀层的厚度和基体材料的导电性能的影响。当镀层减薄时，会有更高的涡流电流通过基体，而当镀层增厚时，通过基体的电流强度会减弱，据此可以计算出镀层厚度。

  涡流法可以用于金属材料基体上的金属或非金属镀层的测厚，也可以用于非金属材料上的金属镀层的测厚，并且是非破坏性测厚法，因而也是应用较广的一种测厚法。特别是在涂料层的测厚应用更多，对镀层较薄时的误差会较大。

  不同品牌型号的膜厚仪有很多种，常用的膜厚仪就有涂层测厚仪、薄膜测厚仪、超声波测厚仪，其测量原理及适用范围会有很大差别。以YT424500-P1涂层测厚仪为例，这是一款一体两用的膜厚仪，可以准确磁性和非磁性金属基体涂层厚度。这款仪器测量范围为0-1250μm，分辨率分别为0.1/1μm。用户在选择膜厚仪时，就需要注意不同类型仪器的测量范围以及测量精度。

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